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Dirección: c/Pedro Cerbuna 12, Universidad de Zaragoza, Facultad de Ciencias, Departamento de Química Analítica – Zaragoza (España)
SOBRE MÍ
Ana María Rua Ibarz obtuvo su Licenciatura y Máster en Química por la Universidad de Zaragoza (Zaragoza, España). Llevó a cabo su investigación de doctorado en la Universidad de Gante (Gante, Bélgica) enfocado en el desarrollo de métodos y aplicaciones de análisis isotópico de alta precisión de Hg utilizando generación de vapor frío acoplado a espectrometría de masas-ICP multi-colector (MC-ICP-MS), y obtuvo su Título de Doctor en 2018. En mayo de 2018, tras un proceso de selección competitivo entre investigadores internacionales, Ana obtuvo una posición postdoctoral en el Instituto Flamenco de Investigación Tecnológica (VITO, Mol, Bélgica), para llevar a cabo un proyecto de investigación dedicado a explorar nuevas estrategias analíticas para la caracterización de nanoparticulas. En marzo de 2020, comenzó a trabajar como investigadora postdoctoral en la Universidad de Gante, en un proyecto en colaboración con TotalEnergies (Feluy, Bélgica). El proyecto estaba basado en el desarrollo de métodos de análisis cuantitativo tanto elemental como resuelto espacialmente de muestras relevantes en petroquímica, como catalizadores, polímeros y rocas mediante ablación laser ICP-MS. Desde noviembre de 2022, Ana esta trabajando como investigadora postdoctoral en la Universidad de Zaragoza (España) tras ser galardonada con el Programa de Becas Internacionales Marie Sklodowska-Curie (MSCA)-COFUND para la Atracción de Talento al Campus de Excelencia Internacional Campus Iberus. Su proyecto de investigación se titula “Explorando nuevas rutas para la caracterización de nanomateriales y microplásticos mediante espectroscopia de plasma”.
PUBLICACIONES
2017
Bolea-Fernandez, Eduardo; Leite, Diego; Rua-Ibarz, Ana; Balcaen, Lieve; Aramendía, Maite; Resano, Martín; Vanhaecke, Frank
Characterization of SiO2 nanoparticles by single particle-inductively coupled plasma-tandem mass spectrometry (SP-ICP-MS/MS) Artículo de revista
En: J. Anal. At. Spectrom., vol. 32, iss. 11, pp. 2140-2152, 2017.
@article{C7JA00138J,
title = {Characterization of SiO2 nanoparticles by single particle-inductively coupled plasma-tandem mass spectrometry (SP-ICP-MS/MS)},
author = {Eduardo Bolea-Fernandez and Diego Leite and Ana Rua-Ibarz and Lieve Balcaen and Maite Aramendía and Martín Resano and Frank Vanhaecke},
url = {http://dx.doi.org/10.1039/C7JA00138J},
doi = {10.1039/C7JA00138J},
year = {2017},
date = {2017-01-01},
journal = {J. Anal. At. Spectrom.},
volume = {32},
issue = {11},
pages = {2140-2152},
publisher = {The Royal Society of Chemistry},
abstract = {The increase in the use of SiO2 nanoparticles (NPs) is raising concern about their environmental and health effects, thus necessitating the development of novel methods for their straightforward detection and characterization. Single particle ICP-mass spectrometry (SP-ICP-MS) is able to provide information on the size of NPs, their particle number density and mass concentration. However, the determination of Si via ICP-MS is strongly hampered by the occurrence of spectral overlap from polyatomic species (e.g., CO+ and N2+). The use of tandem ICP-MS (ICP-MS/MS) enables interference-free conditions to be obtained, even in the most demanding applications. Upon testing several gases, the use of CH3F (monitoring of SiF+, mass-shift approach) and of H2 (monitoring of Si+, on-mass approach) were demonstrated to be the most suitable to overcome the spectral interference affecting ultra-trace Si determination (LoD < 15 ng L−1). By using these approaches, SiO2 NPs (ranging between 80 and 400 nm) can be detected and characterized. For SiO2 NPs > 100 nm, it was possible to provide accurate results in a straightforward way, as the signals they give rise to are well resolved from those of the background. In the case of 80 and 100 nm NPs, the use of a simple deconvolution approach following a Gaussian model was needed to characterize SiO2 NPs apparently showing incomplete distributions as a result of the presence of the background signal. Overall, the methods developed using SP-ICP-MS/MS are sensitive and selective enough for the interference-free determination of Si at ultra-trace levels, also in the form of SiO2 NPs.},
keywords = {},
pubstate = {published},
tppubtype = {article}
}